21. Nanoscale CMOS VLSI circuits

المؤلف:

المکتبة: مكتبة حرم كيش الدولي بجامعة طهران (هرمزکان)

موضوع: Metal oxide semiconductors, Complementary--Design and construction,Integrated circuits--Very large scale integration--Design and construction,Nanoelectronics

رده :
TK
7871
.
99
.
M44
K9
2010

22. Nanoscale CMOS VLSI circuits

المؤلف:

المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)

موضوع: Metal oxide semiconductors - Complementary - Design and construction,Integrated circuits - Very large scale integration - Design and construction,Nanoelectronics

رده :
TK7871
.
99
.
M44K84
2010

23. Nanoscale CMOS VLSI circuits

المؤلف:

المکتبة: مكتبة ومركز معلومات جامعة الإمام الرضا العالمية (خراسان رضوی)

موضوع: Metal oxide semiconductors, Complementary--Design and construction,Integrated circuits--Very large scale integration--Design and construction,Nanoelectronics

رده :
TK7871
.
99
.
M44K84
2010

24. Nanoscale CMOS VLSI circuits :

المؤلف:

المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)

موضوع: Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design and construction,Metal oxide semiconductors, Complementary-- Design and construction,Nanoelectronics

رده :
TK7871
.
99
.
M44
K84
2010

25. Nanoscale CMOS VLSI circuits

پدیدآورنده :

موضوع : Metal oxide semiconductors, Complementary- Design and construction,Integrated circuits- Very large scale integration- Design and construction,Nanoelectronics

۳ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.

26. Nanoscale CMOS VLSI circuits: design for manufacturability

المؤلف:

المکتبة: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)

موضوع: Design and construction ، Metal oxide semiconductors, Complementary,Very large scale integration Design and construction ، Integrated circuits,، Nanoelectronics

رده :
TK
7871
.
99
.
M44
.
K84
2010

27. metric CMOS VLSI circuits-oriented testing for nano-Defect

المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)

موضوع: Integrated circuits ; Very large scale integration ; Defects. ; Integrated circuits ; Very large scale integration ; Testing. ; Metal oxide semiconductors, Complementary ; Defects. ; Metal oxide semiconductors, Complementary ; Testing. ;